ESD原理和ESD防护注意事项

undefined

什么是ESD

ESD全称是Electro-Static discharge,其中文意思是“静电放电”。是指具有不同静电荷电位的物体相互靠近或直接接触引起的电荷转移。简单说就是电荷瞬间从一个物体移到另一个物体上,形成一个电荷转移的过程的现象,即具有不同静电电势(电位差)的物体或表面之间的静电电荷转移,就是静电放电。在EMC领域我们习惯上称之为静电放电抗扰度试验,具体可参阅国际标准IEC-61000-4-2/GBT 17626.2。其中分接触放电和电磁场击穿介质放电。

ESD产生原理:

具有不同静电荷电位的物体由于直接接触或静电感应所引起的物体之间静电电荷的转移。通常指在静电场的能量达到一定程度之后,击穿其间介质而进行放电的现象。

静电的产生:

静电是一种静止的电荷,是电子不均匀分布的结果,静电产生的两种途径主要是摩擦起电与感应起电。

1. 摩擦起电

2. 感应起电

静电的特点

材料的电特性

  1. 绝缘体
  1. 导体
  1. 静电释放材料(静电耗散材料)

人体活动产生典型的静电电压

undefined

人体活动 静电势(空气相对湿度10%-20%) 静电势(空气相对湿度65%-90%)
在地毯上走动 35000 1500
在聚乙烯地板上走动 12000 250
在工作台走动 6000 100
拿聚乙烯纤维包 7000 600
从工作台拿起聚乙烯衬垫 20000 1200
坐在填有聚氟脂泡膜的椅子上 18000 15000
从数据上可以明显看到在干燥的环境中产生的静电压更高,所以实际生活中在干燥的秋冬季节更易出现ESD问题

各种常用器件的静电敏感性

undefined

模块的防静电能力

下表是合宙Air724UG模块的ESD防护能力:

管脚名 接触放电 空气放电
VBAT,GND ±5KV ±10KV
ANT_MAIN ±5KV ±10KV
Others ±0.5KV ±1KV

从表中可以看到除了VBAT管脚和天线管脚的防静电能力可以达到空气放电10KV以外,其他管脚的防静电能力都很弱鸡,只能到空气放电1KV,从前面的资料我们可以看到人体放电很轻松就能达到10KV,这样的话模块不是很容易就被打坏了吗?合宙为什么不把所有管脚的防静电能力都做到10KV呢?模块的所有管脚都加好ESD防护器件会有哪些问题呢?

既然ESD防护绝大部分的工作需要靠终端来实现,那么我们在使用模块的时候要具体要采用哪些防护措施呢?

ESD防护措施

我们该如何来保护我们的电子产品呢?

  1. 生产环节

人体静电防护系统主要有防静电手腕带、脚腕带、脚跟带、工作服、鞋袜、帽、手套或指套等组成,具有静电泄放,中和与屏蔽等功能。
静电防护工作是一项长期的系统工程,任何环节的失误或疏漏,都将导致静电防护工作的失败。
2. 产品设计环节

产品到了消费者手上后,就会暴露在静电放电的风险中,我们必须在产品设计的环节中就设计好ESD防护:
整机ESD 性能主要决定于:结构屏蔽性, ESD器件防护 和 PCB Layout 防护。

  1. 结构屏蔽性
    所有的结构缝隙都是潜在的ESD泄漏路径,有可能会损坏我们的产品,所以我们必须尽可能的用外壳密封起来。

  2. ESD防护器件
    对于USB连接器,SIM卡座,天线 等接口,无法通过结构来密封,我们可以通过增加ESD防护器件来增加产品的抗静电能力。
    常见的ESD防护器件有TVS管和MLV压敏电阻

TVS 管箝位时间短、 结间电容小,用于高速信号防护,而 MLV价格便宜用于低速信号的防护

选择防护器件时的几个关键参数:

  1. PCB Layout 防护
    不管选择怎样的TVS器件,它们在电路板上的布局非常重要。TVS布局前的导线长度应该减到最小,因为快速(0.7ns)ESD脉冲可能产生导致TVS保护能力下降的额外电压。另外,快速ESD脉冲可能在电路板上相邻(平行)导线间产生感应电压,感应电压路径将成为另一条让浪涌到达IC的路径。因此,被保护的输入线不应该被放置在其它单独、未受保护的走线旁边。

推荐的ESD抑制器件PCB布局方案应该是:

附 ESD静电放电测试模型:

(1)HBM 人体放电模型(Human-Body Model, HBM)

人体模型(Human Body Model - HBM),HMB是ESD模型中建立最早和最主要的模型之一。

HBM是传统的测试模式,定义在工业标准 (MIL-STD-883x)中。人体上带电,特别在干燥的冬天,常会接触如门把手时便会有被电到的感觉。这是人体活动的结果,静电荷积聚在人体上,当我们去接触芯片时,人体上的静电就经由IC的pin脚进入芯片内部,然后经由IC放电到地。(不只在接触PIN时才会发生,因为封装IC的表面就存在静电荷,接触包装表面也会发生。)放电过程在瞬间发生,大概几纳秒内将IC组件烧毁。

(2)MM 机器放电模型 (Machine Model, MM)

机器放电模式,也就是将人体换成了机器设备,主体部分的改变,使得测试模式的改变。在这情况下,指静电电荷积累在机器设备上,当接触到IC进对芯片放电,并因此毁坏了电路。机器放电模式,工业标准EIAJ-IC-121 method20。MM测试电路与HBM相似,数值改变如,电容值为200pf,充电电压500V,充电电阻100Mohms,放电部分加>500nH电感(电感量与电流无关,感抗XL=2πfL,f为频率)。因为绝大部分机器是金属的,等效电阻极小,导致瞬时放电电流巨大(几安培)。机器模型因在日本得到广泛应用,也叫日本模型。与家具模型不同的是它主要由200pf电容串非常低的电阻(<10Ω)代替通常串联的电阻构成。机器模型的典型代表如带电绝缘的机器人手臂、车辆、绝缘导体等。机器模型放电的波形与预料的家具模型波形相似,不同的是带电电容较大。典型的机器模型对小电阻(<10Ω)放电的波形, 峰值电流可达几百安培,持续时间(决定于放电通路的电感)为几百纳。

(3)CDM 组件充电模式 (Charged-Device Model, CDM)

这种模式下,电荷积聚在IC本身,可能是因为与PIN摩擦,或者是接触到其他物体的静电电荷,使本身带电。再通过直接接地或间接接地进行放电,而形成的一种放电现象。此类现象的模拟十分困难,是因为导致放电的组件差异所造成的。这种现象表明IC可能在生产过程中受损,比如IC在传输过程中带电,在安装到电路板上时接地而损坏。有时也可能在测试过程中受到损坏。CDM等效电路因情况的不同而多种多样。因为封装很小,所以电容和电感值都很小,大约5pf和10nH。CDM的放电时间很短,电流能在1ns时间内冲到15安培的高峰,因此这种现象更容易对IC造成损伤。CDM与HBM没有相互关连性,成功的CDM测试不能预示器件用HBM会发生什么情况!

(4)其它FIM/IEC/E-Gun 电磁场感应模式 (Field-Induced Model, FIM)

此类模式与CDM相似,只是IC带电方式不同。这种模式是IC在电场环境中,因感应而使本身带电,放电模式与CDM类拟。这种模式工业标准(JESD22-C101),详情请阅读相关标准。

上次更新 2021-01-28